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1范圍本規(guī)程規(guī)定了JW-BK400比表面積分析儀設(shè)備的完好標(biāo)準(zhǔn)、操作方法、維護(hù)規(guī)程、安全操作規(guī)程。2操作步驟操作條件：室溫25℃,濕度小于30%。2.1開始測試依次接通氮?dú)夂秃?，先開總閥再打開減壓閥，將壓力調(diào)到0.3Mpa左右。再打開儀器電源，打開真空泵電源。打開軟件，進(jìn)入操作界面，點(diǎn)擊新建，依次建立4個(gè)工作站，選擇菜單欄中窗口下的垂直平鋪，并按順序排列好各站點(diǎn)。2.2測量大氣壓待儀器預(yù)熱25-30min后，將儀器空樣品管任意一個(gè)拆下，在操作界面對應(yīng)的通道上，氣路控制下勾選...

比表面積測試方法主要分連續(xù)流動(dòng)法（即動(dòng)態(tài)法）和靜態(tài)容量法[1]。動(dòng)態(tài)法動(dòng)態(tài)法是將待測粉體樣品裝在U型的樣品管內(nèi)，使含有一定比例吸附質(zhì)的混合氣體流過樣品，根據(jù)吸附后氣體濃度變化來確定被測樣品對吸附質(zhì)分子（N2）的吸附量；靜態(tài)法根據(jù)確定吸附吸附量方法的不同分為重量法和容量法；重量法是根據(jù)吸附后樣品重量變化來確定被測樣品對吸附質(zhì)分子（N2）的吸附量，由于分辨率低、準(zhǔn)確度差、對設(shè)備要求很高等缺陷已很少使用；容量法是將待測粉體樣品裝在一定體積的一段封閉的試管狀樣品管內(nèi)，向樣品管內(nèi)注入一...

比表面積測定儀的原理及應(yīng)用一、比表面積測定儀的原理比表面積是指單位質(zhì)量物質(zhì)的表面面積，通常用m2/g表示。比表面積測定儀是一種用于測定粉末、顆粒或多孔材料表面積的儀器。比表面積測定儀的原理是通過比較吸附區(qū)域與未被占用區(qū)域之間分子壓縮膜的升降，根據(jù)這種壓縮膜的變化來測量材料的比表面積。二、比表面積測定儀的測量方法在使用比表面積測定儀進(jìn)行測量時(shí)，需要將樣品置于高真空或氣氛下對樣品進(jìn)行吸附。隨后，用氣載法或液相法測量吸附體積，根據(jù)吸附體積，結(jié)合比表面積測定儀的標(biāo)準(zhǔn)曲線，即可測得物質(zhì)...

比表面積k值標(biāo)定步驟如下：1、在恒溫實(shí)驗(yàn)室中，我們先通電預(yù)熱全自動(dòng)比表面積儀。2、計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)粉的用量，我們根據(jù)質(zhì)量=密度*體積*孔隙率3、計(jì)算出質(zhì)量后，我們利用精密天平稱出標(biāo)準(zhǔn)粉的用量。（容器中先放入濾紙）4、我們將裝有標(biāo)準(zhǔn)粉的容器置于比表面積的儀器上，輸入相關(guān)參數(shù)，進(jìn)行K值標(biāo)定。K值是指水泥的比表面積的張力系數(shù)。一般的比表面積測定儀，應(yīng)放置的避光、溫、濕度按《水泥質(zhì)量管理規(guī)程》中的化驗(yàn)室條件去設(shè)置，在誤差范圍之內(nèi)，就不用校準(zhǔn)K值了，用比表面積標(biāo)準(zhǔn)粉用校準(zhǔn)，一般是通過在U型管中...

比表面積及孔徑測試儀一、適用范圍及功能1）適用產(chǎn)品多：包括測量建材、石墨、電池材料、沸石、碳材料、分子篩、二氧化鋁、土壤、有機(jī)化合物等粉體以及各種塊材、片材、高分子纖維等。2）功能強(qiáng)大，包含目所有的數(shù)據(jù)處理方法：單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積。粒度估算和真密度測試、孔隙率及孔隙度分析。吸、脫附等溫線分析。BJH中孔和大孔的孔體積，孔面積對孔徑的分布，總孔體積等?？梢约觮-plots微孔分析，as-plots微孔分析，MP微孔分析等。可以進(jìn)行微孔DR理論、H...

如何正確使用電弱點(diǎn)測試儀？每當(dāng)我們打開開關(guān)，享受到家里有電的舒適和方便時(shí)，卻很少想到這電力系統(tǒng)背后的復(fù)雜性和風(fēng)險(xiǎn)。在現(xiàn)代社會中，電力已經(jīng)成為了貫穿人類生活各個(gè)方面的必要因素。然而，隨著電力系統(tǒng)規(guī)模的擴(kuò)大和負(fù)載的增加，電力設(shè)備出現(xiàn)故障的問題也日益突出。為了提高電力系統(tǒng)的安全性和可靠性，電弱點(diǎn)測試儀作為一種檢測電力系統(tǒng)缺陷的工具應(yīng)運(yùn)而生。電弱點(diǎn)測試儀是一種基于反射原理的探測器，它可以幫助我們快速、準(zhǔn)確地發(fā)現(xiàn)電力系統(tǒng)中的瑕疵和脆弱點(diǎn)。通過測試儀的電流和電壓輸出值的比較，我們可以確定...

電弱點(diǎn)測試儀擊穿后的電壓采集能解決什么問題？電弱點(diǎn)測試儀采用的光耦隔離方式，但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理，對于電弧放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。電弱點(diǎn)測試儀測量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。本機(jī)具備多重保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的性。如過壓、過流、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺門開啟保護(hù)。根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測試，測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無...

計(jì)算機(jī)控制電弱點(diǎn)測試儀DRD-10KV電弱點(diǎn)測試儀-（計(jì)算機(jī)控制）?產(chǎn)品型號：DRD-10KV?執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB_T13542.2-2009IEC60674-2:1988-電氣絕緣用薄膜第2部分試驗(yàn)方法產(chǎn)品用途：該儀器主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下自動(dòng)升壓測定每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)。本儀器方式為微機(jī)控制，卷膜移動(dòng)速度可設(shè)定，按照設(shè)定的升壓速率升壓，達(dá)到設(shè)定的電壓后，實(shí)時(shí)記錄當(dāng)?shù)碾妷褐岛碗娏髦担⒛軌驅(qū)崟r(shí)記錄當(dāng)?shù)膿舸c(diǎn)，試驗(yàn)結(jié)束后自動(dòng)歸零，自...